SMX-7QS-T

Интерференционный микроскоп (микроинтерферометр) для бесконтактного исследования геометрических параметров наконечника оптического коннектора.

Прибор разработан на основе интерферометра Майкельсона; измерения проводятся по методу интерферометрии фазового сдвига и интерферометрии белого света.

Управление процессом измерений и обработка полученных данных производится на ПК при помощи многофункционального программного обеспечения с удобным интерфейсом Sumix MaxInspect™ (подключение по USB 2.0).

Основные особенности интерферометра:

• Исследование коннекторов FC, ST, SC, LC, MU, E2000, SMA, MT-RJ с прямой или угловой полировкой (оправы-держатели для разных типов коннекторов приобретаются отдельно)
• Функции интерферометра и видеомикроскопа
• Сканирование поверхности диаметром 1 мм, 50 мкм в продольной плоскости
• Высокая точность измерений (различение дефектов размером 1,3 мкм)
• Быстрые измерения (1 с на один коннектор)
• Ручной и автофокус
• Компактный размеры, прочный корпус

Возможности MaxInspect™:

• Калибровка интерферометра, управление процессом измерений
• Получение изображения торца коннектора (функция микроскопа)
• Интерферограмма поверхности
• Создание 3D модели поверхности и ее проекций
• Вычисление геометрических параметров (радиус кривизны наконечника, радиус кривизны торца волокна, смещение апекса, угловая ошибка, выступ или углубление волокна...)
• Сравнение измеренных параметров с допустимыми значениями (IEC, Telcordia или заданные пользователем)
• Создание отчета об исследовании

Больше информации Вы можете получить на сайте производителя.