WIZ-QS+

WIZ-QS+

кол-во (шт.)

Интерференционный микроскоп (микроинтерферометр) для бесконтактного исследования геометрических параметров наконечника оптического коннектора.

Прибор разработан на основе интерферометра Майкельсона; измерения проводятся по методу интерферометрии фазового сдвига и интерферометрии белого света.

Управление процессом измерений и обработка полученных данных производится на ПК при помощи многофункционального программного обеспечения с удобным интерфейсом Sumix MaxInspect™ (подключение по USB 3.0).

Основные особенности интерферометра:

  • Исследование коннекторов FC, ST, SC, LC, MU, E2000 с прямой или угловой полировкой (оправы-держатели для разных типов коннекторов приобретаются отдельно)
  • Функции интерферометра и видеомикроскопа
  • Сканирование поверхности диаметром 0,75 мм.
  • Высокая точность измерений (различение дефектов размером 2,7 мкм)
  • Быстрые измерения (1,8 с на один коннектор)
  • Автофокус
  • Компактные размеры, прочный корпус

Возможности MaxInspect™:

  • Калибровка интерферометра, управление процессом измерений
  • Получение изображения торца коннектора (функция микроскопа)
  • Интерферограмма поверхности
  • Создание 3D модели поверхности и ее проекций
  • Вычисление геометрических параметров (радиус кривизны наконечника, радиус кривизны торца волокна, смещение апекса, угловая ошибка, выступ или углубление волокна...)
  • Сравнение измеренных параметров с допустимыми значениями (IEC, Telcordia или заданные пользователем)
  • Создание отчета об исследовании

Больше информации Вы можете получить на сайте производителя.

АртикулПроизводительВремя измеренияРазрешающая способностьОбласть обзораФокусУвеличениеКоннекторы
WIZ-QS+Sumix1,8 с2,7 мкмØ 0,75 ммавто500LC, SC, ST, FC

Сопутствующие компоненты