MAX-QS

MAX-QS

кол-во (шт.)

Интерференционный микроскоп (микроинтерферометр) для бесконтактного исследования геометрических параметров наконечника оптического коннектора.

Прибор разработан на основе интерферометра Майкельсона; измерения проводятся по методу интерферометрии фазового сдвига и интерферометрии белого света.

Управление процессом измерений и обработка полученных данных производится на ПК при помощи многофункционального программного обеспечения с удобным интерфейсом Sumix MaxInspect™ (подключение по USB 3.0).

Основные особенности интерферометра:

  • Исследование коннекторов FC, ST, SC, LC, MU, E2000, SMA, MT-RJ с прямой или угловой полировкой (оправы-держатели для разных типов коннекторов приобретаются отдельно)
  • Функции интерферометра и видеомикроскопа
  • Сканирование поверхности 1,1×0,9 мм, 50 мкм в продольной плоскости
  • Обнаружение сколов и царапин
  • Высокая точность измерений (различение дефектов размером 1,1 мкм)
  • Быстрые измерения (2 с на один коннектор)
  • Ручной и автофокус
  • Компактный размеры, прочный корпус

Возможности MaxInspect™:

  • Калибровка интерферометра, управление процессом измерений
  • Получение изображения торца коннектора (функция микроскопа)
  • Интерферограмма поверхности
  • Создание 3D модели поверхности и ее проекций
  • Вычисление геометрических параметров (радиус кривизны наконечника, радиус кривизны торца волокна, смещение апекса, угловая ошибка, выступ или углубление волокна...)
  • Сравнение измеренных параметров с допустимыми значениями (IEC, Telcordia или заданные пользователем)
  • Создание отчета об исследовании

Больше информации Вы можете получить на сайте производителя.

АртикулПроизводительВремя измеренияРазрешающая способностьОбласть обзораФокусУвеличениеКоннекторы
MAX-QSSumix2 с1,1 мкм1,1×0,9 ммручной500LC, SC, ST, FC, SMA, MT-RJ

Сопутствующие компоненты